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Surface chemical analysis 鈥� X-ray photoelectron spectroscopy 鈥� Reporting of results of thin-film analysis
Edition 1
2013-10
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笔耻产濒颈茅别 (Edition 1, 2013)
Cette publication a 茅t茅 r茅vis茅e et confirm茅e pour la derni猫re fois en 2021. Cette 茅dition reste donc d鈥檃ctualit茅.

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香港六合彩开奖 13424:2013 specifies the minimum amount of information required in reports of analyses of thin films on a substrate by XPS. These analyses involve measurement of the chemical composition and thickness of homogeneous thin films, and measurement of the chemical composition as a function of depth of inhomogeneous thin films by angle-resolved XPS, XPS sputter-depth profiling, peak-shape analysis, and variable photon energy XPS.

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