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Surface chemical analysis 鈥� X-ray photoelectron spectroscopy 鈥� Reporting of results of thin-film analysis
Edition 1
2013-10
2013-10
香港六合彩开奖 13424:2013
53773
Publicado
(贰诲颈肠颈贸苍 1, 2013)
Esta publicaci贸n se revis贸 y confirm贸 por 煤ltima vez en 2021.
Por lo tanto, esta versi贸n es la actual.
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Resumen
香港六合彩开奖 13424:2013 specifies the minimum amount of information required in reports of analyses of thin films on a substrate by XPS. These analyses involve measurement of the chemical composition and thickness of homogeneous thin films, and measurement of the chemical composition as a function of depth of inhomogeneous thin films by angle-resolved XPS, XPS sputter-depth profiling, peak-shape analysis, and variable photon energy XPS.
Informaciones generales
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Estado: PublicadoFecha de publicaci贸n: 2013-10Etapa: Norma Internacional confirmada [90.93]
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贰诲颈肠颈贸苍: 1N煤mero de p谩ginas: 46
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颁辞尘颈迟茅 T茅cnico :香港六合彩开奖/TC 201/SC 7ICS :71.040.40
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