Informations
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éٲ: SAC
Manager du comité: -
Président(e) (jusqu'à fin 2024):Mr Jiang Zhao
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Responsable de programmes techniques ϲʿ [TPM]:Responsable éditorial ϲʿ [EM]:
- Date de création: 1991
Domaine des travaux
Normalisation dans le domaine de l'analyse par microfaisceaux (mesurage, paramètres, méthodes et matériaux de référence) qui utilise des électrons comme rayon incident et des ions ou des photons comme signal de détection.
Note:
L'objet consiste à analyser les caractéristiques de composition et de structure des matériaux solides. Le volume analysé fera généralement intervenir une profondeur jusqu'à 10 micromètres et une aire inférieure à 100 micromètres carrés.
Liens utiles
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Programme technique
Projets de travail et nouveaux projets préliminaires -
Plans d'action
Plans d'action pour examen public -
Documents de travail (compte utilisateur nécessaire)
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Outils TI pour l'élaboration des normes
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Documents publics
Parcourir les documents rendus accessibles par ce groupe
Ce comité contribue avec 4 normes à l'Objectif de développement durable suivant :
ééԳ | Titre | Type |
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ϲʿ/TC 202/SC 1 | Terminologie | dzܲ-dzé |
ϲʿ/TC 202/SC 2 | Microanalyse par sonde à électrons | dzܲ-dzé |
ϲʿ/TC 202/SC 3 | Microscopie analytique à électrons | dzܲ-dzé |
ϲʿ/TC 202/SC 4 | Microscopie électronique à balayage | dzܲ-dzé |
ϲʿ/TC 202/AG éٲ." data-bs-placement="top" data-bs-trigger="focus" role="button" tabindex="0" data-bs-html="true"> | Orientations futures dans l’analyse par microfaisceaux | Groupe de travail |
Comités en liaison vers le ϲʿ/TC 202
Les Comités ci-dessous peuvent accéder aux documents du ϲʿ/TC 202:
ééԳ | Titre | ϲʿ/CEI |
---|---|---|
ϲʿ/TC 201 | Analyse chimique des surfaces | ϲʿ |
ϲʿ/TC 201/SC 10 | Analyse par réflectométrie de rayons X et par fluorescence de rayons X | ϲʿ |
ϲʿ/TC 229 | Nanotechnologies | ϲʿ |
Date | Mois | Lieu | TC/SC | Note |
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29-31 | Octobre 2024 | Tokyo (Japan) | ϲʿ/TC 202 |
* Information définitive mais réunion pas encore convoquée
** Provisoire
ϲʿ/TC 202 - Secrétariat