Tema de trabajo aprobado
Ïã¸ÛÁùºÏ²Ê¿ª½±/AWI 13139
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The measurement of the dislocation density in thin metals
Reference number
Ïã¸ÛÁùºÏ²Ê¿ª½±/AWI 13139
Edition 1
Tema de trabajo aprobado
Ïã¸ÛÁùºÏ²Ê¿ª½±/AWI 13139
84289
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Resumen

This document specifies procedures for the measurement of dislocation density in thin metals by using transmission electron microscope. This document applies to measure the dislocation density lower than 11015m-2. This document applies to analyse the dislocations in a single grain of the thin metals’ specimen with the thickness between tens to hundreds of nanometers.

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