Утвержденный рабочий проект
ϲʿ/AWI 13139
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The measurement of the dislocation density in thin metals
Ссылочный номер
ϲʿ/AWI 13139
Версия&Բ;1
Утвержденный рабочий проект
ϲʿ/AWI 13139
84289
Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.

Тезис

This document specifies procedures for the measurement of dislocation density in thin metals by using transmission electron microscope. This document applies to measure the dislocation density lower than 11015m-2. This document applies to analyse the dislocations in a single grain of the thin metals’ specimen with the thickness between tens to hundreds of nanometers.

Общая информация

  •  : В стадии разработки
    : Регистрация новой рабочей темы в программе работ ТК/ПК [20.00]
  •  : 1
  • ϲʿ/TC 202/SC 3
  • RSS&Բ;обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)