Reference number
ϲʿ 18114:2021
International Standard
ϲʿ 18114:2021
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Edition 2
2021-05
Preview
ϲʿ 18114:2021
80189
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 2, 2021)

ϲʿ 18114:2021

ϲʿ 18114:2021
80189
Язык
Формат
CHF 42
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в

Тезис

This document specifies a method of determining relative sensitivity factors (RSFs) for secondary-ion mass spectrometry (SIMS) from ion-implanted reference materials.

The method is applicable to specimens in which the matrix is of uniform chemical composition, and in which the peak concentration of the implanted species does not exceed one atomic percent.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2021-05
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  •  : 2
  • ϲʿ/TC 201/SC 6
    71.040.40 
  • RSS&Բ;обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)