Reference number
ϲʿ 19668:2017
International Standard
ϲʿ 19668:2017
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
Edition 1
2017-08
Preview
ϲʿ 19668:2017
65947
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2017)

ϲʿ 19668:2017

ϲʿ 19668:2017
65947
Язык
Формат
CHF 129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в

Тезис

ϲʿ 19668:2017 specifies a procedure by which elemental detection limits in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) can be estimated from data for a particular sample in common analytical situations and reported. This document is applicable to homogeneous materials and is not applicable if the depth distribution of elements is inhomogeneous within the information depth of the technique.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2017-08
    : Рассылка краткого отчета о пересмотре [90.60]
  •  : 1
  • ϲʿ/TC 201/SC 7
    71.040.40 
  • RSS&Բ;обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)