Reference number
ϲʿ 15932:2013
International Standard
ϲʿ 15932:2013
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Vocabulary
Edition 1
2013-12
Preview
ϲʿ 15932:2013
55560
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2013)

ϲʿ 15932:2013

ϲʿ 15932:2013
55560
Язык
Формат
CHF 129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в

Тезис

ϲʿ 15932:2013 defines terms used in the practice of AEM. It covers both general and specific concepts classified according to their hierarchy in a systematic order. It is applicable to all standardization documents relevant to the practice of AEM. In addition, some parts of this International Standard are applicable to those documents relevant to the practice of related fields (e.g. TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX) for the definition of those terms common to them.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2013-12
    : Рассылка краткого отчета о пересмотре [90.60]
  •  : 1
  • ϲʿ/TC 202/SC 1
    37.020  01.040.37 
  • RSS&Բ;обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)