Reference number
ϲʿ 16700:2004
ϲʿ 16700:2004
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
Edition 1
2004-03
Retirada
ϲʿ 16700:2004
30420
Retirada (徱ó 1, 2004)

Resumen

ϲʿ 16700:2004 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. This International Standard does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Informaciones generales

  •  : Retirada
     : 2004-03
    : Retirada de la Norma Internacional [95.99]
  •  : 1
     : 16
  • ϲʿ/TC 202/SC 4
    37.020 
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

¿Tiene alguna duda?

Consulte nuestras Ayuda y asistencia

Atención al cliente
+41 22 749 08 88

Horario de asistencia:
De lunes a viernes - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)