Reference number
ϲʿ/TS 21383:2021
Technical Specification
ϲʿ/TS 21383:2021
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements
Edition 1
2021-03
Technical Specification
Preview
ϲʿ/TS 21383:2021
70832
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2021)

ϲʿ/TS 21383:2021

ϲʿ/TS 21383:2021
70832
Язык
Формат
CHF 194
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в

Тезис

This document describes methods to qualify the scanning electron microscope with the digital imaging system for quantitative and qualitative SEM measurements by evaluating essential scanning electron microscope performance parameters to maintain the performance after installation of the instruments. The items and evaluating methods of the performance parameters are selected by users for their own purposes.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2021-03
    : Рассылка краткого отчета о пересмотре [90.60]
  •  : 1
  • ϲʿ/TC 202/SC 4
    37.020 
  • RSS&Բ;обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)