Ссылочный номер
ϲʿ 18118:2004
ϲʿ 18118:2004
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
Версия&Բ;1
2004-05
В время отменен
ϲʿ 18118:2004
29146
Отозвано (Версия 1, 2004)

Тезис

ϲʿ 18118:2004 gives guidance on the measurement and use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials by Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 2004-05
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ϲʿ/TC 201/SC 7
    71.040.40 
  • RSS&Բ;обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)